德國Freiberg Instruments的MDPicts（MDP微波探測光誘導電流瞬態(tài)譜儀--少子壽命），非接觸且無(wú)損傷，用于溫度依賴(lài)的少數載流子壽命測量以及半導體的界面陷阱和體陷阱能級的電性能表征。MDpicts將在半導體材料的基礎研究與開(kāi)發(fā)領(lǐng)域取得廣泛的應用。

臺式PID（Potential Induced Degradation）潛在誘導退化測試儀，用于c-Si太陽(yáng)能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測。

晶圓片晶錠壽命檢測儀用于常規質(zhì)量控制、精密材料研發(fā)的單晶和多晶片及晶錠的壽命測量

靈活的OEM設備，用于多種不同樣品的在線(xiàn)壽命測量：從單晶硅到多晶硅錠，從生成態(tài)晶圓片到不同鍍層或金屬化晶圓的過(guò)程控制。標準軟件接口，易于連接到許多處理或自動(dòng)化系統。

晶圓片在線(xiàn)面掃檢測儀是一種用于快速定量測量載流子壽命并集成掃描功能的檢測儀。通過(guò)工廠(chǎng)安裝的傳送帶將晶圓片移至儀器，在不到一秒的時(shí)間內，就可以“動(dòng)態(tài)”測量出晶圓圖。