環(huán)境控制原子力顯微鏡檢測

項目

細則

收費

說(shuō)明

空氣下形貌表征

Air接觸或輕敲模式

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1.如果單個(gè)樣品測試時(shí)間超出30min則按照兩個(gè)樣品計算；

2.液相形貌掃描、電化學(xué)液池模塊測試的樣品，單個(gè)樣品測試時(shí)間超出1小時(shí)則按照兩個(gè)樣品計算；

3探針被樣品污染，按實(shí)際采購探針費加收探針耗材費用；

4.可以自帶探針

力學(xué)性能測試

力曲線(xiàn)測試、AM-FM粘彈性成像測試

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電學(xué)性能測試

導電AFM成像和I/V曲線(xiàn)測試。電流測試范圍1pA至20nA，電流測試精度1pA

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磁學(xué)性能測試

MFM模塊，表征樣品磁疇分布

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STM測試

導電樣品表面高分辨成像

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納米加工、刻蝕

納米刻蝕、納米操縱、陽(yáng)極氧化刻蝕、刮擦刻蝕

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壓電力模塊測試

材料表面壓電疇分布，可以提供150V電壓

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液相形貌測試

只接受水相、無(wú)毒有機相溶液測試，具有腐蝕性的有機溶劑另議

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電化學(xué)液池模塊測試

觀(guān)察金屬及其他材料的電化學(xué)沉積、氧化及腐蝕過(guò)程，需要與電化學(xué)工作戰聯(lián)用

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