布魯克 D8 達芬奇 X射線(xiàn)衍射儀

布魯克D8達芬奇X射線(xiàn)衍射儀

型號:D8 Advance

產(chǎn)地:德國

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線(xiàn)衍射儀,采用創(chuàng )造性的達芬奇設計,通過(guò)TWIN-TWIN光路設計,成功實(shí)現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換,而無(wú)需對光。通過(guò)革命性的TWIST TUBE技術(shù),使用戶(hù)可以在1分鐘內完成從線(xiàn)光源應用(常規粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到點(diǎn)光源應用(織構、應力、微區)的切換,讓煩人的光路互換、重新對光等問(wèn)題從此成為歷史!

高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內的每一個(gè)衍射峰(注意不是一個(gè)衍射峰)的測量峰位和標準峰位的誤差不超過(guò)0.01度,布魯克AXS公司提供保證!

*的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍,不僅答復提高設備的使用效率, 而且大幅提高了設備的探測靈敏度。

技術(shù)指標:                                          

Theta/theta 立式測角儀                              

2Theta角度范圍:-110～168°

角度精度:0.0001度                    

Cr/Co/Cu靶,標準尺寸光管                  

探測器:林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器                  

儀器尺寸:1868x1300x1135mm                            

重量:770kg     

應用

物相定性分析

結晶度及非晶相含量分析

結構精修及解析

物相定量分析

點(diǎn)陣參數精確測量

無(wú)標樣定量分析

微觀(guān)應變分析

晶粒尺寸分析

原位分析

殘余應力

低角度介孔材料測量

織構及ODF分析

薄膜掠入射

薄膜反射率測量

小角散射