淺析熒光光譜儀在使用時(shí)的誤差來(lái)源

　　熒光光譜儀是通過(guò)X射線(xiàn)管產(chǎn)生的X射線(xiàn)作為激光源，激發(fā)光源激發(fā)樣品產(chǎn)生X熒光射線(xiàn)。根據熒光X射線(xiàn)的波長(cháng)和強度來(lái)確定樣品的化學(xué)組成。作為一種質(zhì)量檢測手段，光譜儀在我國各行各業(yè)應用越來(lái)越廣泛。研究光譜儀在分析過(guò)程中的誤差，提高儀器的分析準確度成為重要的課題。
 

　　熒光分析過(guò)程中產(chǎn)生誤差的原因主要有操作方面、儀器方面、以及試樣本身等三方面因素。
 

　　一、在熒光光譜儀分析中操作方面帶來(lái)誤差的因素：
 

　　1、在光譜儀分析制樣過(guò)程中，粉磨時(shí)未設定好粉磨時(shí)間和壓力，達不到要求的粉磨粒度或相應的料度分布。實(shí)驗表明當粉磨時(shí)間短于試驗設定時(shí)間，測定結果就會(huì )產(chǎn)生波動(dòng)。同時(shí)，粉磨時(shí)未按規定加適量助磨劑或所加助磨劑中含有所要分析的元素，都會(huì )給測定結果帶來(lái)較大影響。磨頭和磨盤(pán)里留有前期樣品或被其它物質(zhì)污染)，結果也會(huì )產(chǎn)生誤差。
 

　　2、光譜儀分析制樣過(guò)程中壓片時(shí)，未設定好時(shí)間和壓力，壓力效果不好或壓片時(shí)樣品布入不均勻而產(chǎn)生了樣品的堆積分布不均，或壓片板(壓片頭)不潔凈(或上面粘有前期樣品)等，都會(huì )影響分析結果。
 

　　3、當樣品制好后，制樣未保護好，制樣裝入試樣盒的位置不當，結果給分析帶來(lái)誤差。制樣未保護好有兩層含義：
 

　?、?、未保護好制樣光潔度。如用手指摸分析面、或用手指甲劃、用口吹、用濕毛巾擦分析面等;
 

　?、谥茦釉诳諝庵蟹胖锰?，使分析面與空氣中物質(zhì)發(fā)生了物理化學(xué)變化。制樣裝盒位置不當，把測樣片裝倒了或測樣片表面與試樣盒表面成一傾斜角等，都會(huì )影響到射線(xiàn)管與分析面的距離，從而產(chǎn)生誤差。
 

　　4、在光譜儀分析中，由于分析面上的樣品灰未除掉，時(shí)間長(cháng)了會(huì )影響到儀器真空度;或由于操作者粗心，分析程序選錯，如測生料時(shí)用上測熟料的分析曲線(xiàn)或用了測石灰石的曲線(xiàn)，顯然結果不正確。
 

　　二、熒光光譜儀儀器方面的誤差因素：
 

　　1、壓片板(或壓片頭)不光潔，導致分析面不光滑，從而影響測量結果。
 

　　2、光路真空度不合適，分光晶體、濾光片選擇不佳，使各種射線(xiàn)產(chǎn)生干擾，影響分析。
 

　　3、X射線(xiàn)管電壓、電流不穩定，從而產(chǎn)生結果波動(dòng)。
 

　　4、隨著(zhù)時(shí)間的延長(cháng)，X光管內部元件尺寸位置變化引起初級X射線(xiàn)強度的變化，或X射線(xiàn)管陽(yáng)極出現斑痕，靶元素在窗口沉積，給分析結果帶來(lái)誤差。
 

　　5、溫度的變化，引起分光晶體晶面間距變化，從而影響分光效率。正比計數管高壓漂移，溫度變化引起管內氣體成分變化，影響放大倍數。
 

　　6、電子電路的漂移，計數的統計誤差，檢測過(guò)程的時(shí)間損失引入的計數誤差等。
 

　　7、氣體的壓力、氮氣、甲烷氣體的流量、溫度等輻射通道條件的變化，都會(huì )影響光路中氣體對X射線(xiàn)的吸收。因此，氣瓶的減壓閥一旦調好，不要隨意再動(dòng)，特別是更換新氣時(shí)，一定要嘗試著(zhù)多次調氣壓，否則，由于氣流、氣壓不穩，使結果產(chǎn)生誤差。
 

　　三、光譜儀試樣本身的誤差因素：
 

　　1、試樣易磨性。有的試樣易磨性較差，對測定構成影響。
 

　　2、試樣成分。有的試樣基本組成成分與標準試樣組成成分不一致，也會(huì )影響測定結果。
 

　　3、基體效應?；w中其它元素對分析元素的影響，包括吸收和增強效應，吸收效應直接影響對分析元素的激發(fā)和分析元素的探測強度。增強效應使分析元素特征輻射增強。
 

　　4、不均勻性效應。X射線(xiàn)強度與顆粒大小有關(guān)，大顆粒吸收大，小顆粒吸收小，這是試樣粒度的影響。
 

　　5、譜線(xiàn)干擾。各譜線(xiàn)系中譜線(xiàn)產(chǎn)生重疊、干擾，還有來(lái)自不同衍射級次的衍射線(xiàn)之間干擾。