XRM應用分享 | 食品工程

由于XRM技術(shù)是一種高質(zhì)、高效的無(wú)損檢測技術(shù)，又有無(wú)需對樣品進(jìn)行復雜預處理、操作簡(jiǎn)便快捷等優(yōu)點(diǎn)，因此其在食品研究領(lǐng)域具有廣闊的應用前景。目前，XRM技術(shù)在食品的應用研究主要集中在對食品微觀(guān)結構分析，檢測食品內部缺陷以及新產(chǎn)品配方評估等方面，而隨著(zhù)技術(shù)的發(fā)展和需求的不斷深入，XRM技術(shù)還可以用于研究動(dòng)態(tài)變化過(guò)程中視頻微觀(guān)結構的變化，為優(yōu)化食品工藝、配方等過(guò)程提供理論依據。

實(shí)例一

不同品牌薯片內部組分分布及含量對比，Bruker Skyscan 1275, 27um

切片圖數據，不同灰度值表征不同的組分

兩組樣品內不同組分的三維分布表征

定量分析，兩組樣品中不同組分體積占比對比

實(shí)例二

榛果巧克力內部多層結構及不同組分分布表征，Bruker Skyscan1275,29um.

榛果巧克力內部結構正交三視圖

樣品內部多層結構及不同組分壁厚分布三維表征

實(shí)例三

烘焙食品（面包）內部網(wǎng)絡(luò )結構評價(jià)，Skyscan1272，5um，面包等烘焙食品的內部是由高度連通的氣孔組成的開(kāi)孔泡沫結構。其質(zhì)地、彈性和口感在很大程度上取決于這個(gè)孔隙網(wǎng)絡(luò )的特征。

MIP模式會(huì )將保留樣品內對X射線(xiàn)衰減能力強的組分，即密度的部分

切片圖數據（左圖） MIP（密度投影）模式（右圖）

二值化，通過(guò)閾值分割將樣品實(shí)體與孔隙區分開(kāi)

 

8bit 灰度值直方圖（左圖） 面包內部結構的二值化圖像，實(shí)體（白），孔隙（黑）（右圖）

定量分析，面包內的壁厚分布和孔徑分布