第二代 S8 TIGER 波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀

2017年，Bruker在德國卡爾斯魯厄開(kāi)發(fā)、設計并制造了第二代S8TIGER。為了提供高質(zhì)量和好性能，位于卡爾斯魯厄的Bruker 工廠(chǎng)專(zhuān)門(mén)為此儀器開(kāi)發(fā)了新的XRF技術(shù)并生產(chǎn)了第二代S8 TIGER 的核心部件。

HighSense™ 性能出眾

光路中的每個(gè)部件都為性能和可靠性而設計。它始于無(wú)比靈活的 Bruker 高壓發(fā)生器和 HighSense X 射線(xiàn)光管，電流高可達 170 mA，以實(shí)現好的激發(fā)。XS 系列分光晶體使第二代 S8 TIGER 能夠在各種應用中達到高強度、好的精密度和好的分辨率：XS-400晶體將鉀（K） - 镅（Am）之間的元素強度提高了35%；XS-CEM 晶體可為水泥和礦物應用中的鋁（Al）和硅（Si）提供好的精密度。

新的 HighSense 計數電子元件為閃爍和正比計數器提供*的線(xiàn)性計數率。通過(guò) DynaMatch 技術(shù)，計數率甚至可達 13 Mcps，使第二代 S8 TIGER 成為可實(shí)現高精度和大樣品處理量的過(guò)程控制應用的理想選擇。

XRF²探索微觀(guān)世界！

XRF²面掃描工具具有的分析性能：有賴(lài)于低至300 μm (FWHM) 的光斑尺寸和100 μm 的步長(cháng)，S8 TIGER 成為同類(lèi)產(chǎn)品的*！采用HighSense 面掃描光路，從而獲得高達10 倍的靈敏度，使得第二代S8 TIGER 成為主、次及微量元素面分布分析的理想選擇。由于使用了WDXRF 測角儀，S8TIGER 比基于EDXRF 的面掃描系統具有更好的分辨率和更高效的輕重元素檢測性能。

第二代 S8 TIGER – 逐步完善的可靠性

通向成功的簡(jiǎn)單秘訣：持續分析、穩步改進(jìn)、不斷學(xué)習、追求完美。第二代S8 TIGER 從過(guò)去每一代WDXRF 發(fā)展而來(lái)，提高了儀器的正常運行時(shí)間和穩定性。采用SampleCare技術(shù)的S8 TIGER 通過(guò)4 種方式技術(shù)持續保護所有重要的系統部件免受污染：DuraBeryllium光管防護屏保護X 射線(xiàn)光管的頭部；污染防護屏和真空封擋保護光譜室。即便，萬(wàn)一在制樣過(guò)程中出現差錯，樣品破損或泄漏，那也不是問(wèn)題。系統部件受到良好的保護，很容易進(jìn)入并輕松清理。

S8Tool 軟件持續監控所有系統參數，并向用戶(hù)提供清楚的實(shí)時(shí)狀態(tài)。如果遇到麻煩，只需點(diǎn)擊 FIRST AID 按鈕，即可使儀器恢復正常狀態(tài)。若有警告信息提示則需考慮安排儀器維護。

在儀器正常運行時(shí)間、低運行成本、維護方便等方面，S8 TIGER 。